| Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
| Medidor de Altura |
Até 200 mm |
1,6 µm |
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>200 mm até 375 mm |
4,5 µm |
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>375 mm até 750 mm |
8,2 µm |
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Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito |
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| Micrômetro Externo |
Até 25 mm |
1,1 µm |
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>200 mm até 375 mm |
4,5 µm |
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>375 mm até 750 mm |
8,3 µm |
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Método de comparação com blocos padrão, plano óptico e paralelo óptico |
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| Micrômetro Interno de 2 pontas |
Até 50 mm |
2,4 µm |
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Método de calibração com máquina de medição linear |
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| Micrômetro Interno de 3 pontas |
Até 20 mm |
2,2 µm |
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>20 mm até 100 mm |
2,3 µm |
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>100 mm até 200 mm |
3,1 µm |
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Método de comparação com anel liso cilíndrico |
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| Paquímetro |
Até 150 mm |
11 µm |
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>150 mm até 375 mm |
22 µm |
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>375 mm até 750 mm |
47 µm |
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Método de comparação com blocos padrão |
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Método de comparação com anel padrão |
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